打破教科書上老舊按鍵檢測 自己獨(dú)創(chuàng)改進(jìn)方法！

傳統(tǒng)教科書中講過，無一例外都是采用delay的方法檢測按鍵，但是這種方法有很多缺陷，今天就這一問題說說，小編作為初學(xué)者，各位大俠不要見笑啊。

傳統(tǒng)的處理方法：在第一次檢測到有鍵按下時，執(zhí)行一段延時 10ms 的子程序以后再確認(rèn)該按鍵電平是否能保持閉合狀態(tài)的電平，如果保持閉合狀態(tài)電平，則確認(rèn)為真正有鍵按下，從而消除抖動的影響。

個人感覺有兩點(diǎn)弊端：

1. 傳統(tǒng)的處理方法執(zhí)行10ms 的延時子程序，會降低程序的實(shí)時性。

2. 傳統(tǒng)的處理方法一次按鍵動作的確認(rèn)，只檢測兩次，在高抗干擾環(huán)境下的會有按鍵的誤動作。

提出一些建議，大家看看是否可行呢：

1. 建議彈跳時間為 100ms 才可有效通過 EFT 雜訊認(rèn)證。

2. 建議主程序中連續(xù)檢查 100ms 的穩(wěn)定低電平才可認(rèn)定按鍵按下成立。

3. 相同道理連續(xù)檢查 100ms 高電平才可認(rèn)定按鍵彈起。

4. 為了保證 MCU 的執(zhí)行效率，按鍵的檢測盡量不要使用 Delay 的方式，可以考慮采用輪詢檢測和計時器配合的方式進(jìn)行。

方法如下：

在發(fā)現(xiàn)低電平后，我們每一個循環(huán)(時基)去讀取一次電平，并與上次進(jìn)行比較，若是相同則計數(shù)器加 1，直至達(dá)到足夠的次數(shù)就進(jìn)行處理，否則計數(shù)器清零，重新開始。