<del id="aymay"></del> 在射頻(RF)測試解決方案方面取得非凡業(yè)績的射頻自動測試設備(ATE)領導者明試國際(Aemulus)今天宣布，該公司近期推出的AMB7600-S平臺，由業(yè)界佼佼者選定為首選測試平臺。通過上述近期推出的產(chǎn)品，明試國際能夠展現(xiàn)4G LTE（長期演進）功率放大器上有效的降低測試成本。這款解決方案加上自身的嵌入式RealSmart?特點，能夠使總體成本降低將近50%。
AMB7600-S于2017年9月14日在SEMICON Taiwan 2017展會中正式推展。圖中由左到右為：伍尚明，明試國際總執(zhí)行官；歐陽毅，漢天下電子技術有限公司副總經(jīng)理；李志立，江蘇長電科技股份有限公司測試廠廠長；張志成，嘉盛半導體（蘇州）有限公司測試部經(jīng)理；林秀鴻，明試國際遠東區(qū)總經(jīng)理；陳義強，明試國際高級市場總監(jiān)
嘉盛半導體（蘇州）有限公司是明試國際的AMB7600長期客戶，該公司的測試部門經(jīng)理張志成表示：“在我們與明試國際合作的上一個項目中，AMB7600射頻測試系統(tǒng)以其‘時間分隔式多站測試技術’功能，在測試時間和成本方面擁有競爭優(yōu)勢。我們希望這種成功能夠在我們采用AMB7600-S的下一個項目時得以復制，我們還相信RealSmart?虛擬化測試系統(tǒng)(VT)技術結合其RealSmart?硬件抽離技術(HAT)，將進一步降低測試成本和投資。”
江蘇長電科技股份有限公司電路測試廠廠長李志立在贊同張志成的觀點時說：“我們在工廠運行著多個AMB7600系統(tǒng)，并且‘時間分隔式多站測試技術’證明了自身價值，從而成為我們首選的射頻測試系統(tǒng)。AMB7600-S 將會是我們未來平臺的首選，我們還希望同時進一步降低測試成本，加快產(chǎn)品上市時間。”
明試國際在SEMICON Taiwan 2017（2017年臺灣國際半導體展）上推出AMB7600-S，張志成、李志立和漢天下電子技術有限公司副總經(jīng)理歐陽毅皆參與其中。歐陽毅稱：“我們決定與明試國際就我們的一個項目開展合作，這是因為AMB7600-S是一項不錯的投資。RealSmart?技術為我們提供更加全面的配套；其體積小，測試時間較快并能針對未來項目進行輕松升級。”
AMB7600-S是第三代射頻前端模塊(FEM)測試系統(tǒng)，旨在兼顧成本和資源效益。AMB7600-S能夠進行拓展，覆蓋更多的復雜射頻設備。依托嵌入的RealSmart?虛擬化測試系統(tǒng)、RealSmart?硬件抽離技術和RealSmart?工業(yè)4.0框架，AMB7600-S將提供更好的智能和強大的預測算法，從而最終保持最好的設備運營效率(OEE)。
明試國際總執(zhí)行官伍尚明則稱：“在對我們客戶的體驗進行多層面評估之后，我們決定開發(fā)嶄新的測試技術，這種技術不僅要能符合客戶的需求，還要兼顧科技的轉(zhuǎn)變。我們非常高興得到了不俗的反應。”
